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破局“小比表”測試難題:華科大分測中心攜手國儀量子,國產(chǎn)利器 SiCOPE 40 正式上線

更新時間:2026-03-17      點擊次數(shù):62
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在物理吸附表征領(lǐng)域,比表面積 < 1m2/g的極低比表面積材料(以下簡稱“小比表樣品")的精確測定,始終是學(xué)術(shù)界與工業(yè)界共同面臨的挑戰(zhàn)。近期,國儀量子研發(fā)團隊協(xié)同華中科技大學(xué)校級分析測試中心樣板點,針對小比表測試中的等溫線交叉及信號反饋異常等核心瓶頸開展技術(shù)攻關(guān)。通過硬件改良與算法創(chuàng)新的雙重驅(qū)動,成功實現(xiàn)了對此類樣品的高精度表征。目前,相關(guān)技術(shù)方案已通過驗證,國儀量子 SiCOPE 40 微孔分析儀正式上線開放服務(wù)。




功能定位:精準(zhǔn)對接“高難度"表征需求


作為支撐全校科研創(chuàng)新的重要公共技術(shù)平臺,華中科技大學(xué)分析測試中心致力于為材料、能源、化學(xué)及生命科學(xué)等多學(xué)科提供高水準(zhǔn)的精密表征支持。針對各學(xué)院自主實驗室難以覆蓋的表征盲點,重點服務(wù)以下領(lǐng)域:

  • 極端性質(zhì)表征針對信號反饋極弱的極低比表面積樣品或需使用特殊氣體的復(fù)雜吸附過程

  • 長時程深度分析: 針對具有復(fù)雜孔道結(jié)構(gòu)、平衡時間長的微孔材料,提供高穩(wěn)定性的長周期測試環(huán)境


技術(shù)回溯:小比表測試中的信號噪聲挑戰(zhàn)

2025年6月,華中科技大學(xué)分析測試中心引入國儀量子 SiCOPE 40 微孔分析儀并進入試運行階段。在對材料學(xué)院(如硬碳、生物質(zhì)碳)及能源學(xué)院(如生物炭)提供的初期樣品進行測試時,發(fā)現(xiàn)當(dāng)樣品質(zhì)量較少且比表面積極低時,物理吸附過程易受到環(huán)境擾動及系統(tǒng)殘留誤差的影響,表現(xiàn)為等溫線異常下降、吸附量呈負值或等溫線交叉。

image2.png圖注:微弱吸附信號在系統(tǒng)背景噪聲及溫度漂移干擾下產(chǎn)生的非物理性波動


攻堅方案:國產(chǎn)高端分析儀器的技術(shù)演進

面對上述行業(yè)共性難題,國儀量子研發(fā)團隊與設(shè)備管理團隊深度協(xié)作,通過多輪樣本實測與儀器調(diào)優(yōu),最終確立了以“空管噪聲剔除"為核心、配合硬件優(yōu)化的綜合解決方案。

1. 空管噪聲剔除算法 (Noise Cancellation Technology)

技術(shù)原理物理吸附儀的測試靈敏度受限于電子噪聲、微小熱環(huán)境波動及氣密性指紋。本中心采用的空管噪聲剔除技術(shù),通過建立高精度的系統(tǒng)背景“噪聲指紋"模型,在實際采樣過程中利用差分計算實時扣除環(huán)境干擾項。該算法的應(yīng)用使得儀器能夠從復(fù)雜的背景背景中提取純凈的吸附信號,實質(zhì)性提升了極低比表面積測試的信噪比。

2. 硬件系統(tǒng)優(yōu)化:3/8 英寸低死體積樣品管

優(yōu)化效應(yīng)通過將標(biāo)準(zhǔn)樣品管直徑由 1/2英寸縮減至 3/8英寸,系統(tǒng)死體積(Dead Volume)顯著降低了約 40%。根據(jù)物理吸附原理,死體積的減少能有效放大單位壓力變化對應(yīng)的吸附響應(yīng),從而在硬件層面保障了對低吸附量樣品的捕捉能力。


性能驗證:確立行業(yè)領(lǐng)先的測試精度

經(jīng)過系列優(yōu)化后,對同類標(biāo)樣及學(xué)術(shù)樣本進行了多組對比實驗。實驗結(jié)果表明,SiCOPE 40 在1m2/g以下的量程內(nèi),其測試結(jié)果的準(zhǔn)確性、平行性及重復(fù)性均表現(xiàn)優(yōu)異。

圖注:中國計量院GBW130365標(biāo)樣

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圖1 為國外知名品牌曲線(BET測試結(jié)果:0.2422)

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圖2 為國內(nèi)競品曲線(BET測試結(jié)果:0.2704)

image7.png圖3 為分測中心SiCOPE 40測試曲線(BET測試結(jié)果:0.1832)


服務(wù)通告:預(yù)約系統(tǒng)全面開啟

我們熱忱歡迎各學(xué)科領(lǐng)域的師生積極利用這一先進的表征平臺!SiCOPE微孔分析儀將為您在材料科學(xué)、化學(xué)化工、能源環(huán)境、生物醫(yī)藥、地質(zhì)礦產(chǎn)等領(lǐng)域的研究提供強有力的數(shù)據(jù)支撐,助力您的科研創(chuàng)新!

聯(lián)系方式

,,87793949轉(zhuǎn)分機號210

地址:華中科技大學(xué)分析測試中心E2座206室


比表面積及孔徑推薦設(shè)備國儀量子比表面及孔徑分析儀SiCOPE 40 介紹:

  • 測試通量:4站并行測試

  • 測試氣體:N2、Ar、CO2、H2等其他非腐蝕性氣體

  • 測試范圍:比表面積:0.0005 m2/g及以上; 

  • 孔徑:0.35-500 nm孔徑精準(zhǔn)分析; 

  • 總孔體積:0.0001 cc/g及以上

  • 測試精度:比表面積重復(fù)性(RSD)≤1.0%;最可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02 nm

  • 分壓范圍:10-8~ 0.999

  • 脫氣處理:4站原位脫氣;并配置獨立樣品預(yù)處理設(shè)備,獨立6組控溫 

  • 控溫范圍:室溫~400 ℃,控溫精度:±0.1 ℃

  • 分析模型:BET比表面積、Langmuir表面積、t-plot分析、BJH、HK、DR/DA、NLDFT孔徑分布



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