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大塚电子显微分光膜厚仪 OPTM series 技术文献
大塚电子显微分光膜厚仪OPTMseries技术文献摘要OPTMseries显微分光膜厚仪是大塚电子(OtsukaElectronics)开发的一款基于显微分光光度技术的高精度膜厚测量设备。该设备通过测量显微区域的光谱反射率,实现对薄膜厚度与光学常数(折射率n、消光系数k)的精准解析。OPTMseries采用集成式测量头设计,单点测量时间小于1秒,最小测量光斑可达φ3μm,膜厚测量范围覆盖1nm至92μm(取决于波长配置),支持最多50层多层膜的同步解析。本文系统阐述OPTMs...
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大塚电子SM-100系列智能薄膜厚度计工作原理
大塚电子SM-100系列智能薄膜厚度计工作原理摘要SM-100系列智能薄膜厚度计是由日本大塚电子(OtsukaElectronics)开发的一款手持式非接触膜厚测量设备。该系列产品基于反射分光干涉原理,将白光光源与微型光谱仪集成于1.1kg的手持机身内,可在1秒内完成0.1μm至100μm范围的单层及多层膜厚测量。本文从光学干涉理论出发,系统阐述SM-100的测量原理、光学系统架构、信号处理流程及关键技术特性,旨在为薄膜测量技术人员提供对该设备工作原理的深入理解。关键词:反射...
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大塚电子光谱干涉法晶圆厚度计 SF-3 技术文献
光谱干涉法晶圆厚度计SF-3技术文献摘要SF-3光谱干涉式晶圆厚度计是一款基于分光干涉原理的高精度光学测量设备,专为半导体制造过程中的晶圆厚度实时监控而设计。本文系统阐述SF-3的测量原理、系统架构、关键技术指标及典型应用场景。该设备采用非接触、非破坏性测量方式,可实现高5kHz的采样速率和优于0.01%的重复精度,厚度测量范围覆盖6μm至1300μm(硅换算),适用于CMP、背面研磨、临时键合等关键制程的厚度监控。关键词:光谱干涉;晶圆厚度测量;实时监控;非接触测量;半导体...
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大塚电子宽光谱高速多通道光谱仪MCPD-9800/6800的技术特性与应用研究
宽光谱高速多通道光谱仪MCPD-9800/6800的技术特性与应用研究摘要MCPD-9800与MCPD-6800是大塚电子株式会社推出的多通道光谱仪系列产品,覆盖从紫外(220nm)至近红外(1600nm)的宽波长范围。该系统采用平面场分光器与电子冷却型图像传感器技术,最短曝光时间可达1ms,实现了高速、高灵敏度、高动态范围的光谱测量。本文系统阐述了两款型号的技术架构、核心性能参数及其在透过/吸收测量、膜厚分析、反射特性评价、物体颜色测量、发光/荧光分析等领域的应用价值,重点...
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大塚电子高精度Zeta电位与粒度分析系统ELSZneoSE的技术特性与应用研究
高精度Zeta电位与粒度分析系统ELSZneoSE的技术特性与应用研究摘要ELSZneoSE是Otsuka日本大塚电子株式会社推出的新一代Zeta电位与粒度测量系统,专为高精度胶体与界面表征而设计。该系统基于动态光散射与电泳光散射技术,实现了从0.6nm至10μm的粒径测量和宽浓度范围(0.00001%~40%)的Zeta电位分析。本文系统阐述了ELSZneoSE的测量原理、核心技术特点、关键性能参数及其在多学科领域的应用价值,重点分析了其实测电渗流校正、多角度粒径分析、温度...
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玉崎科学仪器代理日本 HEIDON 新东科学 便携式摩擦计 3D Muse TYPE37i
玉崎科学仪器代理日本HEIDON新东科学便携式摩擦计3DMuseTYPE37i便携式摩擦计3DMuseTYPE37i任何人,任何地点,任何角度。有了便携式摩擦力计3DMuse,无需任何技能或经验,即使是初学者也能轻松测量物体间的静摩擦系数。它不仅可以测量室内平面的摩擦力,还可以测量倾斜表面、墙壁、天花板,甚至室外的摩擦力,这都得益于其便携性。例如,在建筑工地,您可以当着客户的面测量两种墙体材料的静摩擦力,并用数据解释材料之间的差异。您还可以现场测量化妆品和药品的触感,并用数据...
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摩擦磨损试验机 型号40 技术参数HEIDON新东科学玉崎科学仪器代理现货供应
日本HEIDON新东科学玉崎科学仪器代理现货供应摩擦磨损试验机型号:40类型:40摩擦磨损试验机这款Tribogear新一代标准型摩擦磨损试验机配备了可在测量过程中使用的上翻式亚克力盖板和全新开发的正交平衡臂系统。标配Y轴方向试验台,使测试更加便捷。TribogearTYPE40操作更简便,精度更高,让您轻松进行摩擦磨损测试。特征采用新开发的“正交平衡臂系统”,测量精度更高。通过将用于测量摩擦力的负载传感器直接置于测量探头上方,可以省去不必要的机构,从而实现更直接的测量。这提...
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玉崎科学仪器代理品牌新东科学HEIDON负载可变摩擦磨损试验系统型号HHS2000S
玉崎科学仪器代理品牌现货日本新东科学HEIDON负载可变摩擦磨损试验系统型号:HHS2000S核心技术与原理HHS2000S的核心技术突破在于其单试样三维磨损表征能力,改变了传统磨损测试的方法。传统方法的局限:传统测试需要使用多个相同试样,在不同固定载荷下逐一测试,再通过对比分析来确定材料的“临界载荷”(磨损机制从轻微磨损突变为严重磨损的转折点)。这种方法耗时、耗样,且可能因试样批次差异引入误差。HHS2000S的创新:该系统仅需一个试样和一次测量,即可生成三维磨损形貌图。在...
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玉崎科学仪器代理日本 HEIDON 新东科学TYPE 25WS变形检测仪技术参数
日本HEIDON新东科学TYPE25WS应变/变形检测仪(又称应力仪、偏光畸变仪),它是基于光偏转原理的精密检测设备,主打敏锐色法用于观察玻璃等透明材料的微小变形/应力。核心技术与区别检测方法:25WS用敏锐色法(适合玻璃、晶体等的微小双折射/应力);同系列25W用正交尼科耳法(更适合观察塑料成型品的流动应力)。光源:32W+15W圆形逆变器荧光灯,闪烁极低,适合长时间检测;有效视场直径达Φ280mm,可容纳大型样品或多组对比样品。上偏振器(检偏镜)可旋转&plusm...
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玉崎科学仪器代理品牌现货HEIDON新东科学TYPE 25W应变测试装置的技术参数
玉崎科学仪器代理品牌现货:日本HEIDON新东科学TYPE25W应变测试装置的技术参数应变测试装置型号:25瓦这款应变分析仪采用交叉尼科尔法,尤其擅长观察塑料模塑产品的流动状态。它是一款操作简便的应变分析仪,配备25W高强度、宽视场的偏转光系统。无闪烁、护眼的逆变式圆形荧光灯确保即使长时间检测也能舒适使用。280mm直径的宽视场允许检测大型试样或同时观察多个试样,便于对比。分析器(上偏光片:分析器)可旋转,可在暗场和明场模式下进行观察。提供两种测量方法,您可以选择最合适的方法...
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新光电子VIBRA CZ-B620S 电子天平 技术参数
新光电子VIBRACZ-B620S电子天平技术参数一、核心计量参数称量(Max):620g最小显示分度值:0.001g(1mg)线性误差:±2mg(参考同系列高精度规格)重复性精度:≤1mg去皮范围:0~620g过载保护:超量程+9格显示“O-Err”报警二、结构与物理参数秤盘尺寸:190mm×190mm(方形)外形尺寸(W×D×H):212mm×322mm×92mm机身材质:SUS304不锈钢(耐腐、耐药品)防风配置:标配玻璃防风罩防护等级:IP44相当(高精...
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新光电子VIBRA CZ-B3200型电子天平工作原理
新光电子VIBRACZ-B3200型电子天平工作原理1仪器概述与核心定位VIBRACZ-B3200是日本新光电子株式会社(ShinkoDenshi)推出的本安防爆型大量程精密电子天平,主打IP65防尘防水、低功耗长续航与防爆合规设计,搭载品牌自研音叉式力传感器,实现3200g量程与0.1g分度值的稳定称量,广泛应用于化工、粉尘、易燃易爆等特殊工业现场的称重、计数、配料作业。整机采用全密封不锈钢机身与本质安全电路设计,依托音叉传感的力学-频率转换机制,完成高精度质量检测,兼具抗...
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